CTI論壇(ctiforum)2月25日消息（記者 凡易)：Signals Research Group（SRG）日前宣布了對LTE芯片組最新基準測試的結果。SRG是該行業(yè)中惟一的獨立數(shù)據(jù)性能研究機構，其測試報告得出的結論是，盡管所有的芯片組在理想網(wǎng)絡條件下的性能表現(xiàn)基本相當，但在更為真實且更具挑戰(zhàn)性的測試場景中，各芯片組的性能仍存在巨大的差異。

　　利用Spirent 8100 LTE解決方案上基于實驗室的測試方法，SRG采集并分析了八種LTE基帶芯片組的數(shù)據(jù)性能，這些芯片組分別來自Altair Semiconductor, GCT, Intel, Nvidia, Qualcomm, Renesas Mobile, Samsung Electronics,  Sequans Communications.

　　本輪最新測試標志著SRG與思博倫通信在芯片組性能測試方面的第八次合作。8100 LTE解決方案被用于將所有的芯片組置于完全相同的網(wǎng)絡條件集合之下，并將每項測試自動重復多次，從而生成有統(tǒng)計學上有意義的客觀結果。此項研究中的一些關鍵亮點如下：

• 來自三家不同供應商的LTE芯片組共同獲得最高榮譽，并且在所有芯片組中脫穎而出。
• 在更具挑戰(zhàn)性的測試場景中，性能最高和性能最差的芯片組之間的差異頻頻超過20個百分點。
• 在芯片組報告信道條件的方式（使用信道質(zhì)量指標 - CQI），以及如何利用MIMO的方法，包括開放環(huán)路和封閉環(huán)路，以及發(fā)送多樣性等方面，不同芯片組的供應商很明顯持有不同的觀點。

　　Signals Research Group公司CEO  Michael Thelander指出：“在最近的基準測試研究中,有三家LTE芯片組在所有芯片組中脫穎而出。同時，在特定的測試場景中，所有的芯片組性能表現(xiàn)都不錯， 說明經(jīng)過一定的優(yōu)化他們都能有相當?shù)男阅鼙憩F(xiàn)。但對那些未能在此次基準測試中予以研究的方案來說，我們對其性能表現(xiàn)還存在不確定性。因為產(chǎn)品在真實環(huán)境下的表現(xiàn)和可以參加基準測試研究的芯片性能還是存在很大的差異。

　　這些測試在各類真實的網(wǎng)絡條件下對每種芯片組在應用層的下行鏈路吞吐量和關鍵性能指標進行了測量。這些測試場景均基于3GPP技術報告（TR）的最新規(guī)格，包括各類靜態(tài)條件和符合行業(yè)標準的步行衰減和車輛衰減條件。在測試中使用了共計32種LTE測試場景。

　　對LTE芯片組性能基準測試的完整分析已經(jīng)編入SRG最新的報告中。該報告將于2月26日發(fā)表并通過www.signalsresearch.com提供。